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Microscopio a scansione STM in ultra-alto-vuoto 

 

Descrizione qualitativa

Sistema di caratterizzazione morfologica ed elettronica di superfici e interfacce tramite Microscopio a Scansione ad effetto Tunnel (STM)

 

Caratteristiche tecniche

UHV AFM/STM Omicron modello STM VT. Sistema di sputtering e annealing per la preparazione delle superfici.

 

Campi di applicazione

Studio della morfologia di superfici metalliche e semiconduttrici e di interfacce ibride organico/inorganico la preparazione delle superfici.

 

Laboratorio: L03. Analisi fisico-chimiche di superfici e interfacce

Responsabile: Valentina De Renzi

Ubicazione: Piano Terra, Stanza: MO-17-00-035


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