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Sistema per microscopia a scansione di sonda (AFM e STM) in Ultra-alto-vuoto

 

Descrizione qualitativa

Miscroscopio a scansione di sonda che lavora sia in modalità AFM che STM ed opera in Ultra Alto Vuoto (UHV).

 

Caratteristiche tecniche

UHV AFM/STM Omicron.

 

Campi di applicazione

Microscopia AFM/STM con risoluzione atomica sia su campioni conduttori che isolanti. Il sistema lavora in condizioni di Ultra Alto Vuoto (UHV).

 

Laboratorio: L04. Laboratorio di sintesi fisica di film sottili e nanoparticelle e caratterizzazione con spettroscopie elettroniche e a scansione

Responsabile: Paola Luches

Ubicazione: Piano Terra, Stanza: MO-17-00-036


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