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Sistema per analisi tramite fotoemissione a raggi X (XPS) e sistema di analisi tramite spettroscopia Auger a scansione con alta risoluzione

 

Descrizione qualitativa

Sistema per analisi chimica di superficie con fotoemissione a raggi X (XPS) e sistema Auger a scansione con alta risoluzione. I due sistemi sono accoppiati fra di loro in UHV e connessi con la sorgente di nanoparticelle.

 

Caratteristiche tecniche

Sorgente di raggi X dual anode Mg/Al, SPECS GmbH. Analizzatore emisferico Mod. Phoibos, SPECS GmbH. Sistema Auger a scansione STAIB Instruments GmbH.

 

Campi di applicazione

Analisi chimica di superficie tramite fotoemissione a raggi X (XPS) e spettroscopia Auger a scansione con alta risoluzione (100nm).

 

Laboratorio: L04. Laboratorio di sintesi fisica di film sottili e nanoparticelle e caratterizzazione con spettroscopie elettroniche e a scansione

Responsabile: Paola Luches

Ubicazione: Piano Terra, Stanza: MO-17-00-037


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